Méthodes d’analyse de l’immunité des équipements et systèmes

Durée : 3 jours soit 21 h
Paris, du 21 au 23 septembre 2021

Prix : 1 490 €

Méthodes d'analyse de l'immunité-2021 Bulletin d'inscription

Demande d'informations complémentaires

Objectifs

Objectif principal :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable  d’appliquer une méthode pour analyser et chiffrer des situations de susceptibilité aux agressions Electro Magnétiques multiples, évitant ainsi les approches empiriques à base de recettes.

Objectif pédagogique :

Le but de cette formation, qui met l’accent sur l’immunité CEM est de :

  • Apprendre à adopter une méthode organisée et progressive
  • Etre capable d’analyser et de maîtriser les mécanismes de couplages
  • Pouvoir chiffrer des perturbations intra et inter – systèmes
  • Savoir déterminer avec méthode les différentes solutions et leur optimisation économique
  • Etre capable d’appréhender les marges obtenues

Programme

Contenu : Evaluation de la Susceptibilité / Immunité

1 – Définitions

Routines de prédictions

Exemple de profil d’essai

Approche de durcissement, aspect statistique

Principales menaces EMI ambiantes

Interprétation des spécifications CEM

CEM inter et intra-système

Matrices de couplages

Table de conversion en décibels

Spectre Bande Etroite / Bande Large

Conversion temps / fréquence, Fréquence équivalente

Rapport signal / bruit

Susceptibilité des circuits Analogiques, Détection d’enveloppe

Marge de bruit des familles logiques

Courant de transition et découplage

Comportement hors-bande des logiques

Structure des tests type MIL –Std 461

Limites en conduction et en rayonnement

Normes CEI / EN 61000-4-2, 4-3 et 4-4

2 – Prédiction couplage par impédance commune

Couplage par impédance commune

Impédance des conducteurs et des pistes

Impédance d’un plan et d’un plan perforé

Calcul du bruit d’alimentation 

3 – Couplage par champ reçu

Distinction Champ-Boucle / Champ-Fil

Coefficient de couplage champ – boucle

Exercice : couplage champ-boucle MD

Torsadage des conducteurs

Coefficient champ à fil

Réduction du champ par plan de masse

Câbles blindés et coaxiaux

Impédance de transfert, calcul de U induit

Relation entre Zt et efficacité d’écran

Impédance de transfert des connecteurs

Conversion MC – MD en filaire, coax, paire blindée

Capacité parasite carte à masse

Exercice récapitulatif

Tableau calcul de susceptibilité 

4 – Diaphonie

Diaphonie fil-à-fil, capacitive et magnétique

Diaphonie entre câbles : routine de calcul

Diaphonie en fonction de la hauteur

Exercice de diaphonie capacitive et magnétique

Diaphonie des câbles plats

Capacité linéique piste à piste

Exercice : Diaphonie sur circuit imprimé

Diaphonie dans les connecteurs “Sub-D”

Exercice de bilan système 

5 – Blindages

Champ proche / champ lointain

Impédance intrinsèque, Effet de peau

Choix du matériau de blindage

Pertes par réflexion et par absorption

Efficacité de blindage de plastiques chargés

Atténuation d’une ouverture, d’un treillis

Atténuation d’une ouverture guide

Efficacité de blindage des joints EMI

Exercice blindage : Etude coffret

Bilan blindage 

6 – Couplage par le secteur

Vue générale d’un parasitage secteur

Impédance d’alimentation

Réseau Stabilisateur d’impédance de ligne

Impédance des condensateurs

Choix des filtres: C, LC, “Pi”, “T”

Justification et choix des écrêteurs

Public / Pré-requis

Techniciens et ingénieurs en électronique
Techniciens d'essais CEM

Formation de base en CEM ou expérience de 2 ans
Niveau Bac en mathématique

Méthodes / Modalités Pédagogiques

Vérification des prérequis
Action de formation :
• Support de cours
• Exercices pratiques
• Démonstrations pratiques si possible
Evaluation des acquis :
• QCM en fin de session

Formation d’adaptation et de développement des compétences dispensée en présentiel
Programme adaptable en durée et contenu en intra entreprise
Attestation de fin de formation

Formateur et consultant terrain de plus de 10 ans d’expérience